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日立球差校正掃描透射電子顯微鏡 HD-2700
- 品牌:日立
- 型號: HD-2700
- 產地:日本
1.整體的解決方案 樣品桿與日立FIB兼容,提供了納米尺度的整體解決方案,從制樣到數據獲得和zui終分析。 2.多種評價和分析功能可選 可同時獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配備ELV-2000型實時元素Mapping系統(DF-STEM像可以同時獲得);可以同時觀察DF-STEM像和衍射像;可以配備超微柱頭樣品桿進行三維分析(360度旋轉)等。
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Talos 透射電鏡
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos
- 產地:美國
Talos F200X S / TEM可在多個維度上提供zui快,zui精確的納米材料定量表征。 Talos F200X S / TEM具有旨在提高產量,精度和易用性的創新功能,是學術,政府和工業研究環境中高級研究和分析的理想選擇。
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LVEM5臺式透射電子顯微鏡
- 品牌:捷克Delong Instruments
- 型號: LVEM5
- 產地:美國
? 透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式 ? 分辨率:2nm(TEM);3nm(SEM) ? Schottky場發射電子槍:高亮度、高對比度 ? 觀察生物樣品無需染色 ? 體積僅為傳統透射電鏡1/10,價格僅為其1/5
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JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡
- 品牌:日本電子
- 型號: JEM-F200
- 產地:日本
以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
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日立透射電鏡 HT7820
- 品牌:日立
- 型號: HT7820
- 產地:日本
日立zuixin推出120kV透射電鏡HT782機型,該機型繼承了標準版HT7800高速CMOS熒光屏相機設計、全數字化、大集成等優點和創新點,仍然采用第二代雙隙物鏡的設計,設計使用高分辨物鏡,標配LaB6燈絲,性能實現突破性提升。此機型分辨率可保證0.144nm(晶格像),廣泛應用于生命科學、醫學、納米材料和軟材料研究領域。主要特點廣泛應用與納米材料和軟材料研究領域。1) 包括高分子聚合物在內的系列軟材料,樣品組成元素多為輕元素,高的加速電壓下很難得到高襯度圖像,在低的加速電壓(120kV
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日立球差校正掃描透射電子顯微鏡 HD-2700
- 品牌:日立
- 型號: HD-2700
- 產地:日本
1.整體的解決方案 樣品桿與日立FIB兼容,提供了納米尺度的整體解決方案,從制樣到數據獲得和zui終分析。 2.多種評價和分析功能可選 可同時獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配備ELV-2000型實時元素Mapping系統(DF-STEM像可以同時獲得);可以同時觀察DF-STEM像和衍射像;可以配備超微柱頭樣品桿進行三維分析(360度旋轉)等。
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日立球差校正透射電子顯微鏡 HF5000
- 品牌:日立
- 型號: HF5000
- 產地:日本
HF5000作為一款球差校正冷場發射透射電鏡,其分辨率達到了亞埃,可以實現對樣品的超細微觀結構的觀察和分析,適用于金屬、陶瓷、半導體、納米材料等的觀察。同時,HF5000特的TEM、STEM、SEM三位一體功能不僅可以實現對材料內部結構的研究,也可以獲得材料表面的信息。原子分辨率的二次電子探測器可以彌補TEM和STEM無法觀察樣品表面的缺陷,同時相比普通的SEM又具有更高的分辨率,可以滿足樣品表面高分辨形貌和結構觀察的需求,與TEM和STEM形成互補。全自動化的球差校正過程又大大簡化了球差校正透射電鏡的使用難度,提高了觀察效率,尤其適合測試平臺和科研ZX等用戶。
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日立新型高分辨率透射電鏡 HT7830
- 品牌:日立
- 型號: HT7830
- 產地:日本
HT7800具有優異的操作性與多樣的自動功能,通過將CCD相機與顯微鏡主機的操作相統一,可以在顯示器畫面上輕松、簡便地進行操作,高刷新率的CMOS熒光相機可以實現在明亮環境下操作,特的雙隙物鏡可以實現高分辨率和高反差觀察的一鍵切換,滿足不同領域的需求。
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日立新一代全數字化透射電子顯微鏡 HT7800
- 品牌:日立
- 型號: HT7800
- 產地:日本
HT7800具有優異的操作性與多樣的自動功能,通過將CCD相機與顯微鏡主機的操作相統一,可以在顯示器畫面上輕松、簡便地進行操作,高刷新率的CMOS熒光相機可以實現在明亮環境下操作,特的雙隙物鏡可以實現高分辨率和高反差觀察的一鍵切換,滿足不同領域的需求。
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日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系統 NX9000
- 品牌:日立
- 型號: NX9000
- 產地:日本
-高亮度場發射電子槍冷 冷場發射電子槍先天具有的高亮度和高能量分辨率的特點,使納米量分析研究成為可能,對超高分辨圖像和電子全息攝影具有大貢獻。 -300kV高壓系統 300kV高壓系統具有更高的穿透能力,保證了厚樣品的原子分辨率圖像,降低了樣品制備難度,尤其對于金屬、陶瓷等高原子序數樣品的觀測十分有利。 -特的分析能力 新引入了雙重雙棱鏡全息攝影功能、高空間分辨率電子能量損失譜(EELS)和高精度平行納米束衍射技術等特的分析技術。
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臺式紫外透射儀
- 品牌:美國精騏
- 型號: ZT-20
- 產地:美國
消費提醒該商品僅限于實驗室科學研究使用,不得用于其他用途! 臺式紫外透射儀產品簡介BioGlow?臺式紫外透射儀是一款簡單、實用的紫外分析設備。產品外形簡潔、體積小、視窗大、光強分布均勻。其光強選擇開關(全光強及半光強)為觀察不同的樣品提供了使用的方便性和結果的可靠性。隨機配置的紫外線防護罩能有效保護操作人員。產品特點1、高(100%)/低(50%)光強選擇,便于各類膠片觀察;2、防紫外線保護,確保操作人員的安全;3、特殊處理紫外玻璃,觀察背景清晰;4、內置反光板,紫外光強分布均勻;5、透射窗口面積達,
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日本日立 HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡
- 品牌:日立
- 型號: HD-2700
- 產地:日本
專用掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國CEOS GmbH公司(總經理Max Haider先生)共同開發的球差校正儀,顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能,更適合高納米技術研究。由于球差校正系統校正了限制電子顯微鏡的性能的球差,使其與標準型號顯微鏡相比,分辨率提高了1.5倍,同時,探針電流提高了10倍。
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日本日立 200kV球差校正透射電鏡HF5000
- 品牌:日立
- 型號: HF5000
- 產地:日本
日立發布的200kV球差校正透射電鏡HF5000,具有高穩定冷場發射電子槍,自動球差校正器,可一鍵操作實現自動球差校正,HAADF-STEM分辨率可以達到0.78埃;
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日立新型雙束系統 NX2000
- 品牌:日立
- 型號: NX2000
- 產地:日本
1.高分辨成像,高襯度成像分辨率:二次電子(3.5nm@1kV),二次離子(4nm@30kV); 2.可實時觀察加工過程; 3.全自動TEM樣品制備。
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LVEM5臺式透射電子顯微鏡
- 品牌:捷克Delong Instruments
- 型號: LVEM5
- 產地:美國
? 透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式 ? 分辨率:2nm(TEM);3nm(SEM) ? Schottky場發射電子槍:高亮度、高對比度 ? 觀察生物樣品無需染色 ? 體積僅為傳統透射電鏡1/10,價格僅為其1/5
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低電壓臺式透射電子顯微鏡系統
- 品牌:捷克Delong Instruments
- 型號: LVEM5/LVEM25
- 產地:美國
臺式透射電子顯微鏡系統,支持多種成像模式 無需專門隔震防磁使用環境,操作維護簡單 觀察生物樣品無需染色,簡易快速地獲得觀察結果。
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JEOL原子級分辨率透射電子顯微鏡JEM-ARM200F NEOARM
- 品牌:日本電子
- 型號: JEM-ARM200F NEOARM
- 產地:日本
JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡, 標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍(Cold-FEG)和全新的高階球差校正器(ASCOR)。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下,均能實現原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統,可以自動進行快速準確的像差校正。新STEM成像技術(e-ABF法)可以更加簡便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰(襯度)圖像。
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手提紫外透射儀
- 品牌:美國精騏
- 型號: BG-10
- 產地:美國
消費提醒該商品僅限于實驗室科學研究使用,不得用于其他用途! 手提式紫外透射儀產品簡介BioGlow?手提式紫外分析系列產品提供波長分別為365nm及254nm的紫外射線。其中,A系列產品具有獨特的自動方向檢查及自動關機功能, 有效地防護操作人員受紫外輻射的傷害。產品特點1、紫外線強度高,元器件性能可靠;2、輕巧便攜,并采用人體工程學的設計理念;3、具有單波長或雙波長兩種產品;4、有線和無線帶充電器的兩種產品供選擇;5、特有的自動安全保護開頭,可以防止當紫外燈轉向正面時,紫外線對人體造成的傷害??沙潆娮贤?
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手提紫外透射儀
- 品牌:美國精騏
- 型號: 手提紫外透射儀
- 產地:美國
手提式紫外分析系列產品提供波長分別為365nm及254nm的紫外射線。其中,A系列產品具有獨特的自動方向檢查及自動關機功能, 有效地防護操作人員受紫外輻射的傷害。
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手提紫外透射儀
- 品牌:美國精騏
- 型號: BG-32
- 產地:美國
消費提醒該商品僅限于實驗室科學研究使用,不得用于其他用途! 手提式紫外透射儀產品簡介BioGlow?手提式紫外分析系列產品提供波長分別為365nm及254nm的紫外射線。其中,A系列產品具有獨特的自動方向檢查及自動關機功能, 有效地防護操作人員受紫外輻射的傷害。產品特點1、紫外線強度高,元器件性能可靠;2、輕巧便攜,并采用人體工程學的設計理念;3、具有單波長或雙波長兩種產品;4、有線和無線帶充電器的兩種產品供選擇;5、特有的自動安全保護開頭,可以防止當紫外燈轉向正面時,紫外線對人體造成的傷害??沙潆娮贤?
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手提紫外透射儀
- 品牌:美國精騏
- 型號: BG-12
- 產地:美國
手提式紫外分析系列產品提供波長分別為365nm及254nm的紫外射線。其中,A系列產品具有獨特的自動方向檢查及自動關機功能, 有效地防護操作人員受紫外輻射的傷害。
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臺式紫外透射儀
- 品牌:美國精騏
- 型號: ZT-10
- 產地:美國
消費提醒該商品僅限于實驗室科學研究使用,不得用于其他用途! 臺式紫外透射儀產品簡介BioGlow?臺式紫外透射儀是一款簡單、實用的紫外分析設備。產品外形簡潔、體積小、視窗大、光強分布均勻。其光強選擇開關(全光強及半光強)為觀察不同的樣品提供了使用的方便性和結果的可靠性。隨機配置的紫外線防護罩能有效保護操作人員。產品特點1、高(100%)/低(50%)光強選擇,便于各類膠片觀察;2、防紫外線保護,確保操作人員的安全;3、特殊處理紫外玻璃,觀察背景清晰;4、內置反光板,紫外光強分布均勻;5、透射窗口面積達,
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Talos 透射電鏡
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos
- 產地:美國
Talos F200X S / TEM可在多個維度上提供zui快,zui精確的納米材料定量表征。 Talos F200X S / TEM具有旨在提高產量,精度和易用性的創新功能,是學術,政府和工業研究環境中高級研究和分析的理想選擇。
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賽默飛(原FEI)Talos L120C TEM透射電子顯微鏡
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos L120C
- 產地:美國
The Talos L120C TEM 的平臺式設計具備了模塊多功能化,ZG的穩定性及操作的便捷性,從而提供可靠的ZJ成像性能。
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Hitachi NX9000 直角型FIB-SEM系統
- 品牌:日立
- 型號: NX9000
- 產地:日本
追求理想的三維結構分析通過自動重復使用FIB制備截面和進行SEM觀察,采集一系列連續截面圖像,并重構特定微區的三維結構。采用理想的鏡筒布局,從先進材料、先進設備到生物組織——在寬廣的領域范圍內實現傳統機型難以企及的高精度三維結構分析。SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角,形成三維結構分析理想的鏡筒布局融合高亮度冷場發射電子槍與高靈敏度檢測系統,從磁性材料到生物組織——支持分析各種樣品通過選配口碑良好的Micro-sampling?系統*和Triple Beam?系統*,可支持制作高品質TEM及原子探針樣品垂直入
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Delong Instruments LVEM5 透射電子顯微鏡TEM
- 品牌:捷克Delong Instruments
- 型號: LVEM5
- 產地:其它
? 小型臺式透射電子顯微鏡(TEM) ? 多用途臺式電子顯微鏡 ? 透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式 ? 分辨率:1.5nm(TEM);10nm(SEM) ? Schottky場發射電子槍:高亮度、高對比度 ? 觀察生物樣品無需染色 ? 體積僅為傳統透射電鏡1/10,操作維護簡單
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賽默飛 Talos F200X G2 透射電子顯微鏡 S/TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos F200X S/TEM
- 產地:美國
可搭配眾多高分辨率場發射槍 (FEG) 選擇高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將極佳 (S)/TEM 成像及極佳能量分辨率相結合。 直觀的軟件 Thermo Scientific Velox 軟件可實現對多模式數據的快速、輕松的采集和分析。 更短的化學成分獲得周期 快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細節,同時保持高潔凈度。 更好的圖像數據 高通量 STEM 成像采用同步多信號檢測,可為高質量圖像提供更高的對比度。 更多空間 為動態實驗添加特定用途的原位樣品桿。 高質量 (S)TEM 圖像和準確的 EDS 通過創新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中獨特的 EDS 吸收校正功能可實現極準確的定量。 高度可重復的數據采集 所有日常 TEM 調整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉中心都是自動進行的,確保您始終從最佳成像條件開始工作。實驗可以能夠再現的方式重復進行,從而使您能夠專注于研究而非儀器操作。 提高了生產率 超穩定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡,可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環境的快速輕松切換。
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賽默飛Talos L120C 透射電子顯微鏡TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos L120C
- 產地:美國
提高穩定性 系統外殼堅固耐用,恒定功率透鏡,且支持遠程操作,可穩定使用。 自動化 多種自動化功能(自動電子槍、自動對齊)提高了結果的重復性和重現性。 高質量成像 4k × 4K Thermo Scientific Ceta CMOS 相機具有大視野,可進行高靈敏度、高速實時數字放大。 上樣速度快 穩健的真空系統提供了無污染的環境,可在氣閘關閉后快速恢復。 數據關聯 Maps 軟件有助于在多種尺度下進行自動化且無人照看的大面積采集。 冷凍成像 借助Thermo Scientific EPU 軟件,在冰生長極少的情況下觀察冷凍樣品,并自動進行單顆粒分析成像。
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賽默飛 Talos F200i 透射電子顯微鏡TEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos F200i
- 產地:美國
可搭配眾多高分辨率場發射槍 (FEG) 選擇 X-FEG、高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將極佳 (S)/TEM 成像及極佳能量分辨率相結合。 可搭配雙 EDS 技術 從單個 30 mm2 檢測器到用于高通量(或低劑量)分析的雙 100 mm2 檢測器中,選擇最適合您需求的 EDS 檢測器。 高質量 STEM/TEM 圖像和準確的 EDS 創新且直觀的 Velox 軟件用戶界面非常簡單,從而輕松獲得高質量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中獨特的 EDS 吸收校正功能可實現最準確的定量。 最全面的原位功能 添加斷層掃描或原位樣品架??焖贁z像機、智能軟件和我們的寬 X-TWIN 物鏡間隙可在盡可能不降低分辨率和分析功能的情況下實現 3D 成像和原位采集。 提高了生產率 超穩定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡,可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環境的快速輕松切換。 可重復性最高的數據 所有日常 TEM 調整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉中心都是自動進行的,確保您始終從最佳成像條件開始工作。實驗可重現,使您可以專注于研究,而不是工具。 高速提供大視野成像 4k × 4k Ceta CMOS 攝像機及其大視野使得可以在整個高張力范圍內以高靈敏度和高速進行實時數字縮放。 緊湊型設計 更小的占地面積和尺寸有助于在更具挑戰性的空間中使用此工具,同時降低基礎設施和支持成本。
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賽默飛(原FEI)ELITE 系統
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: ELITE
- 產地:美國
ELITE 是DY款可為二維和三維器件提供動態無損實時 LIT 的完全集成系統。作為市場領導者,ELITE 系統的設計采用專有的高靈敏度 InSb 攝像頭、定制光學器件和高級算法,具有出眾的性能,并可以在最短時間內獲得結果,通過為失效分析工程師提供根本原因分析所需的關鍵信息,有效縮短分析學習的周期。
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DENS Wildfire 原位加熱樣品桿
- 品牌:荷蘭DENS solutions
- 型號: Wildfire
- 產地:荷蘭
Wildfire是一種擁有革命性的納米芯片的原位解決方案,能夠在最高溫度下對材料進行直接原位TEM和EDS研究?;趦灮疢EMS的芯片,提供了最穩定和最寬的溫度范圍,而不會影響電鏡的性能。 通過研究FIB薄片、薄膜或顆粒樣品的多功能窗口設計,可以獲得一系列激動人心的應用。
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新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E
- 品牌:捷克Delong Instruments
- 型號: LVEM 25E
- 產地:美國
五種成像模式 ☆ 配備TEM、STEM、SEM、EDS和ED模式 ☆ 通過直觀的軟件輕松切換成像模式 ☆ TEM和STEM模式下的明場和暗場測量 ☆ SEM模式(BSE)用于表面測量 ☆ 能量色散光譜(EDS)用于元素分析 ☆ 電子衍射(ED)用于了解晶體結構 完全集成和緊湊的設計 ☆ 設計緊湊、節省空間 ☆ 幾乎可以在任何實驗室環境中進行單插頭安裝 ☆ 沒有特殊的設施要求(不需要冷卻、電源或防震隔離)
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賽默飛(原FEI)Talos F200C TEM透射電子顯微鏡
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Talos F200C
- 產地:美國
支持范圍廣泛的用戶: 憑借完全數字化的界面、領先的人體工程學設計以及遙控特征,Talos F200C TEM 使較廣范圍的用戶都能夠擁有功能強大的生物及生物材料樣品三維表征能力。
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顯微鏡載物臺(電動/壓電)
- 品牌:上海昊量
- 型號: 1
- 產地:徐匯區
昊量光電設備有限公司推出的平臺專業設計普遍適用于市面上大部分的正置/倒置顯微鏡??梢怨┦謩悠脚_、電動平臺、壓電與步進電機混合運動平臺、手動與壓電集成平臺。平臺每個軸都采用閉環反饋控制,可以提供更高的分辨率和可重復性。Z軸采用壓電陶瓷平臺,可提供納米級的定位精度,行程從150μm-500μm可選。
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賽默飛(原FEI)Helios 5 激光 PFIB
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Helios 5
- 產地:美國
完全集成飛秒激光系統的Thermo Scientific Helios 5 Laser PFIB,這是一臺先進的聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM),可以利用納米級分辨率實現快速3D表征毫米尺度材料。
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賽默飛(FEI)Aquilos 2 Cryo-FIB冷凍聚焦離子束顯微鏡
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Aquilos 2 Cryo-FIB
- 產地:美國
Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷凍聚焦離子束顯微鏡,Cryo-FIB)是一款專用的冷凍雙束顯微鏡系統,可為高端冷凍透射電鏡斷層掃描分析提供ZJ的樣品制備流程。
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[公開招標]預算5200萬 安徽醫科大學采購冷凍透射電鏡
安徽醫科大學公開招標冷凍透射電鏡,項目編號:2023BFAHZ02170
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